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掃瞄電子顯微鏡原理與應用

掃瞄電子顯微鏡用在很多的場合，包括材料分析跟一些破壞分析都用的到，所謂掃瞄電子顯微鏡的英文全名為Scanning Electron Microscopy，簡稱為SEM。

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