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場發射型掃描式電子顯微鏡 - 國立中山大學

於SEM上，附加一組能量分散分析儀(EDS)，更可依物體表面在電子撞擊後所釋出之X射線而分析樣品中化學成份種類與含量。 儀器設備說明. n 機型：JEOL JSM ...

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