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高真空中二维材料的表面电位测量 - 原子力显微镜(AFM)

它主要通过探测AFM探针针尖和样品之间的接触电位差(VCPD) 来对导电和半导体材料上的表面电位分布进行成像[4]。因此，该技术可以收集有关功函数、材料不均匀性、局部 ...

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