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掃描電位顯微鏡於銅銦鎵硒薄膜分析之應用

掃描電位顯微鏡(scanning kelvin probe microscopy, SKPM) 取得銅銦鎵硒薄膜的表面電位縱深分布，再搭 ... 到的接觸電位差推算出樣品的功函數，反之亦然。

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