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TW201941509A - 寬頻帶可調雷射及其雷射系統之波長測定

本發明係關於用於寬頻帶可調雷射及其系統之波長測定之方法，該方法可利用基於光子積 ... 然後可將來自物體的反射光束與傳送的光束進行比較，由於光介質、光物體或兩種 ...

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