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二次離子質譜儀(TOF-SIMS) - 貴重儀器中心- 清華大學

儀器英文名稱：Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer ... 分析離子源：Ar + 、Bi + ; 濺射離子源：O2 +、 Cs + ; 質量分析器：飛行時間式; 質量解析：> 10000 ...

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