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孔隙率量測儀/ Ellipsometric Porosimetry ( EP ) - Semilab

孔隙率測試系統基於橢圓偏振測試技術，通過高真空系統定量控制已知分子量的溶劑吸附於孔隙薄膜的孔隙內，使薄膜材料中的孔隙逐步由空氣變為已知溶劑，從而改變薄膜的折射率 ...

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