你即將離開本站

並前往https://libap.nhu.edu.tw:8081/Ejournal/AK01001003.pdf

熱探針法量測半導體摻雜濃度之探討

至於用來檢測半導體材料的主要載子濃度則多以霍爾電壓及半導體薄膜的厚度經公式算出其. 濃度,幾乎沒有濃度檢測是採用熱探針法.本文重新檢視量測的流程及相對應的理論, ...

確定！ 回上一頁

查詢 「載子濃度公式」的人也找了：

  1. 載子濃度定義
    2.
  2. 本質濃度ni
    3.
  3. 本質載子濃度溫度
    4.
  4. 霍爾效應載子濃度
    5.
  5. 電子遷移率公式推導
    6.
  6. 半導體載子濃度
    7.
  7. 本質載子濃度
    8.
  8. 載子濃度單位
    9.