超音波 掃描顯微鏡(C-SAM)主要使用於封裝內部結構的分析,因為它能提供IC封裝因水氣或熱能所造成破壞分析,例如裂縫、空洞和脫層. 超聲波顯微鏡(SAT)是Scanning Acoustic ...
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