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一种基于超声扫描显微镜的内部微观缺陷检测方法 - Google ...

本发明提高了超声扫描显微镜C扫图像的成像精度，能够获得传统时域峰值成像方法难以获得的细节信息， ... JP5402046B2 2014-01-29 超音波計測装置及び超音波計測方法.

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