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新技術探索中子、矽與第五種基本力細節 - 科技新報

為了獲得晶體材料在原子尺度上的微觀特性，科學家會將一束粒子（如X 射線、電子或中子）瞄準晶體，趁它穿過或彈離材料平面時檢測光束的角度、強度與 ...

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