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設計不良的產品
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https://ndltd.ncl.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi/login?o=dnclcdr&s=id=%22105NCTU5031081%22.&searchmode=basic
應用實驗設計法降低晶片製程之黏合不良率-以P公司為例
因此,本研究之主要目的是以台灣某封裝廠晶片製程為個案,利用實驗設計法來改善個案公司之IC黏合不良率過高的問題,有效降低了該封裝廠晶片報廢成本及提升了產品品質。
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