你即將離開本站

並前往https://community.jmp.com/t5/JMP-Blog/IC%E7%94%A2%E5%93%81%E5%A6%82%E4%BD%95%E9%80%B2%E8%A1%8C%E5%8F%AF%E9%9D%A0%E5%BA%A6%E6%B8%AC%E8%A9%A6-JMP%E5%8F%AF%E9%9D%A0%E5%BA%A6%E5%8A%A0%E9%80%9F%E5%88%86%E6%9E%90%E6%87%89%E7%94%A8/ba-p/451978

IC產品如何進行可靠度測試？JMP可靠度加速分析應用

第一階段早夭期(Infant Mortality)：代表產品使用初期失效率從高點急速下降的過程，其中原因可能因為產品設計或是製程設計不良，因為占總群體一小 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「設計不良的產品」的人也找了：