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記憶原理
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非揮發性記憶體可靠度試驗(NVRAM) - iST宜特
重複擦寫測試(Cycling Endurance Test):於高溫和常溫下對非揮發性記憶體元件進行固定次數Erase/Program,測試該元件重複擦寫耐久能力。
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