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退火處理對已劣化MOSFETs的恢復效應 - Airiti Library華藝線上 ...

根據Katsetos研究指出經過NBTI加壓測試老化的元件經過高溫退火(anneal)後會使元件恢復(recovery)其初始的性能。為探討陷入電荷的機制，本研究使用製程退火，對已 ...

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