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半導體製造|測試常見的英文縮寫名詞、專有名詞、商用縮寫

指的是對Wafer做測試，用以驗證此Wafer上的好壞品狀況。 ⚫ CPK：Process Capability Index. 製程能力指標。 ⚫ CPR： ...

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