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衡陞科技成功驗證小於兩奈米先進製程故障分析用的探針規範

其中涉及故障分析领域首当其冲的问题，即是所有对于电晶体直接量测的方法，都需要高一致性、低阻值、针尖够细的探针与节点接触。随着制程往下微缩，探 ...

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