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半導體製程設備－量測與AOI系列/六面外觀檢查機

可檢測基板上的露銅/針孔/崩裂/刮傷/汙染，錫球的多缺球/球徑/球偏，晶背上的崩裂/刮傷/汙染，被動元件遺失/崩裂/髒汙，散熱片的偏移/刮傷/汙染，側邊的散熱片溢膠/ ...

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