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表面分析英文
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Ellipsometry - 光譜橢偏儀
Ellipsometry是一種功能強大的分析工具,用於表徵許多材料中的薄膜, ... 沒有直接測量材料特性; 必須將樣品的光學模型擬合到數據中; 需要光學平坦的樣品表面 ...
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