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蝕刻終點 偵 測
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等離子刻蝕機 - 中文百科全書
雷射干涉終點法(IEP)是用雷射光源檢測透明薄膜厚度的變化,當厚度變化停止時,則意味著到達了刻蝕終點。其原理是當雷射垂直入射薄膜表面時,在透明薄膜前被反射的光線與 ...
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「蝕刻終點 偵 測」
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