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四點探針量測儀(FPP)使用操作手冊

四點探針量測儀(Four-Point Probe)可以測量導體及半導體的電阻。本設備主要用途為量測半導體薄膜電阻，即片電阻係數(Sheet Resistivity)，單位為Ω/** 或ohms per ...

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