你即將離開本站

並前往http://ir.lib.isu.edu.tw/retrieve/89734/etd-0819111-135740.pdf

碩士論文矽鉻靶材及濺鍍條件對薄膜電阻特性影響之研究

而量測薄膜厚度時所用的儀器為探針式膜厚儀（Surface Profilemeter），其原理是. 因為薄膜與基板間有高度差，在探針掃描基板時會感應到基板上的薄膜厚度而紀. 錄其數值，即 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「薄膜電阻量測」的人也找了：

  1. 薄膜電阻計算
    2.
  2. 四點量測原理
    3.
  3. 四點探針公式推導
    4.
  4. 片電阻電阻率換算
    5.
  5. 薄膜電阻材料
    6.
  6. 薄膜電阻應用
    7.
  7. sheet resistance量測
    8.
  8. 四點探針減少誤差
    9.