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塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之比較

本論文係探討塊體與薄膜材料微波介電性質量測技術之差異，塊體之量測技術為柱狀共振法，薄膜之量測技術為共振腔擾動法，並將塊體與薄膜之量測技術做比較。

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