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柯文政教授-先進薄膜材料與元件實驗室

後續光譜漫射率量測、GaN 薄膜成長. 與特性量測、LED 磊晶性能驗證均已持續進行中。期待能為國內LED 產業注入新的技術。圖1 (a)圖案間距0.2 µm PSS 上製備AAO 遮罩 ...

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