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高解析場發射掃描式電子顯微鏡JEM7000F 管理辦法 - 明道大學 ...

能提供金屬材料、電子材料及高分. 子材料在高倍率下之二次電子影像(SEI)及背向散射電子影像(BEI)之表面. 型態觀察。本機台同時配置有能量分散光譜儀(EDS)能做元素成分 ...

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