你即將離開本站

並前往https://web.ardentec.com/?m=174

材料分析

掃描式電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope,SEM)是利用微小聚焦的電子束(Electron Beam)進行樣品表面 ... 訊號源主要來自：二次電子、背向散射電子及特性X光…

確定！ 回上一頁

查詢 「背向散射電子」的人也找了：

  1. 背向散射電子原子序
    2.
  2. ebsd中文
    3.
  3. 二次電子成像
    4.
  4. EPMA
    5.
  5. sem bse原理
    6.
  6. SEM 檢測
    7.
  7. SEM 光圈
    8.
  8. SEM
    9.