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高解析場發掃瞄式電子顯微鏡(FE-SEM) 儀器負責人

SEM 主要觀測的是二次電子及背向散射電子，此二種電子產生的原因如下:當入射的電子束轟擊導 ... 當入射的電子束轟擊原子序較大的導電性試件表面時，因.

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