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短路測試
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評估短路條件下1200 V 碳化矽MOSFET 的穩固性
使用碳化矽MOSFET 的設計來適應電路條件,而不. 會影響器件的導通電阻或晶片尺寸。 破壞性短路測試結果. 測試電路( 圖1a 和1b) 設計用於評估各種工作. 條件 ...
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「短路測試」
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