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A 半導體積體電路測試概論第三章開路與短路測試 - 白安鵬

開路與短路測試(Open/Short test)，也稱為連續性測試(Continuity test)或稱連接測試(Contact test)。此測試項目的主要目的，是要確認所有待測物的接腳， ...

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