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短路測試原理
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IC开短路测试(open_short_test),编程器测试接触不良 - 博客园
开短路测试的测试原理比较简单,分open_short_to_VDD 测试和open_short_to_VSS测试.一般来说芯片的每个引角都有泄放或说保护电路,是两个首尾相接的 ...
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「短路測試原理」
的人也找了:
短路試驗目的
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