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高靈敏度相位差量測技術 - AOIEA

材料之相位差與應力的關係可由式（1）應力-光學定律（Stress-optic law）[1] ... 本技術低相位差量測之實現方法是利用線偏振片-相位補償片-樣本-相位補償片-線檢偏片.

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