你即將離開本站

並前往https://ir.nctu.edu.tw/bitstream/11536/51113/6/854106.pdf

第三章實驗設備與方法

EDS 為掃描式電子顯微鏡所加裝的附件，藉由量測電子束轟擊試片後 ... 以得知在這一個工作環境之下，背向散射電子的作用深度大約在1 µm 左.

確定！ 回上一頁

查詢 「環境掃描式電子 顯微鏡」的人也找了：

  1. 場發射掃描式電子顯微鏡原理
    2.
  2. 掃描式電子顯微鏡原理
    3.
  3. sem掃描式電子顯微鏡
    4.
  4. 掃描式電子顯微鏡sem原理
    5.
  5. 掃描式電子顯微鏡用途
    6.
  6. 掃描式電子顯微鏡穿透式電子顯微鏡
    7.
  7. 掃描式電子顯微鏡價格
    8.
  8. sem二次電子
    9.