你即將離開本站

並前往https://patents.google.com/patent/TWI653605B/zh

TWI653605B - 利用深度學習的自動光學檢測方法、設備

一種利用深度學習的自動光學檢測方法，包含：提供成對影像組合，其中該成對影像組合包括至少一無瑕影像與至少一對應於該無瑕影像的瑕疵影像；提供一卷積神經網路架構， ...

確定！ 回上一頁

查詢 「瑕疵檢測深度學習」的人也找了：

  1. Keras 瑕疵檢測
    2.
  2. yolov4瑕疵檢測
    3.
  3. 瑕疵檢測英文
    4.
  4. 產品 瑕疵檢測
    5.
  5. 應用深度學習於自動光學檢測
    6.
  6. 瑕疵檢測 CNN
    7.
  7. 深度學習 AOI
    8.
  8. AOI瑕疵檢測
    9.