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應用TRIZ 理論於探針卡測試設備研發

然而，在高頻測試環境中，以探針卡測試設備對探針卡進行檢測，往往因 ... 對於晶圓（wafer）製造及封裝測試等半導體產業 ... 導電（林阿德等人，2011）。

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