你即將離開本站

並前往https://www.semi.org/zh/blogs/technology-trends/advanced-testing-inspection-metrology

確保5G AIoT應用安全可靠半導體測試與檢測技術迎來典範轉移

因此在設計測試治具時，準確的Dk和Df值非常重要，如此才能在去除測試儀本身特性後，獲得正確量測結果。 04-1. （圖4）矽品精密工業股份有限公司技術副理 ...

確定！ 回上一頁

查詢 「理 德 測試機」的人也找了：

  1. 台灣日電產理德ptt
    2.
  2. 日本 電 產 理 德
    3.
  3. M6 測試機
    4.
  4. 台灣尼得科尖端科技股份有限公司
    5.
  5. nidec-read
    6.