因電阻值、晶片厚度與. 磁場密度皆可由實驗量得,代入(1),(2),(3)式, 由此可求出電阻率、載子濃度與遷移率. (四) 材料與儀器. 1. n-type 矽晶片與p-type 矽晶片. 2. 游標尺 ...
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