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成果報告資料顯示 - 工程科技推展中心

中文摘要, 「探針卡」為「晶圓測試」產業的關鍵組件，晶圓的受測晶粒需透過固定於 ... 因素包括：探針材質、探針幾何、測試電流、接觸時間、針測行程、以及針測次數。

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