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雙功能膜厚計

日本KETT LZ-373雙功能膜厚計，具備獨立式探測頭，可以用來測定磁性體及非磁性金屬物上的被膜厚度量測。LZ-373雙功能膜厚計包含了電磁膜厚計LE-373及渦電流膜厚 ...

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