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高速采集卡用于正电子湮灭谱仪_测量 - 搜狐

随着亚纳秒核电子学技术、高分辨率角关联测量技术以及高能量分辨率半导体探测器的发展，可以对正电子的湮没特性进行精细的测量，从而使正电子湮没方法 ...

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