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正電子湮滅
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CN103994736B - 一种无损检测复合膜表面功能层厚度的方法
本发明公开了一种无损检测复合膜表面功能层厚度的方法,包括如下步骤:将样品放置于样品室;将不同能量的正电子分别入射至薄膜发生湮没并分别搜集湮没产生的伽马射线能 ...
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「正電子湮滅」
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