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科學Online #歐傑電子Auger electron 的產生現象 - Olur

XPS 表面成份定性及定量分析. 2. XPS化學位移chemical shift 分析歐傑電子、特徵X射線、背散無線電子的產生過程均與樣品原子性質有關，所以可以用於成分分析。

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