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光光電子能譜儀XPS/ESCA iST宜特- 歐傑電子 - Kawi

來加以判定，並利用歐傑電子能譜儀，AEM 之分析獲得材料界面元素分布的資訊，最後藉由場發射量測儀，FEM 對材料進行場發射性質的量測，以了解碳奈米尖錐及其他奈米結構 ...

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