你即將離開本站

並前往http://www.nano.nsysu.edu.tw/khvic/JL/ESCA_20170110.htm

無題

歐傑電子 能譜儀(AES)和X光光電子能譜儀(XPS)可用來分析材料表面組織形態及其化學結構 , 適用於薄膜、材料、電子、化學、化工、機械、電機等研究領域。

確定！ 回上一頁

查詢 「歐 傑 電子 XPS」的人也找了：

  1. aes xps比較
    2.
  2. 歐傑電子能譜儀
    3.
  3. 歐傑電子能譜儀原理
    4.
  4. 歐傑電子二次電子
    5.
  5. 歐傑電子元素分析
    6.
  6. Auger electron Spectroscopy
    7.
  7. auger electron spectroscopy原理
    8.
  8. 交大xps
    9.