通過x 射線光電子能譜儀( xps ) 分析磨痕表面元素的化學狀態,掃描電子顯微鏡( ... 傳統的表面分析設備如低能電子繞射儀( leed ) 及歐傑電子能譜儀( aes ) ,則用來 ...
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