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歐傑電子能譜儀

歐傑電子 能譜儀(AES)和X光光電子能譜儀(XPS)可用來分析材料表面組織形態及其化學結構 , 適用於薄膜、材料、電子、化學、化工、機械、電機等研究領域。

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