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掃瞄式電子顯微鏡(SEM)

收電子、歐傑電子、特徵X 光……等。在. 一般掃瞄式電子顯微鏡偵測系統上，主要. 為偵測二次電子及背向散射電子成像，這. 些訊號經過放大處理後即可成像觀察，如. 圖2 ...

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