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提高非隨機圖形設計的故障覆蓋率 - 電子工程專輯

當將LBIST建置於暫存器之間的高密度組合或大型組合路徑設計時，就會出現問題。這些設計可能成為非隨機圖形測試，在假定的隨機和機率相同的輸入被饋送 ...

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