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新電子 10月號/2019 第403期 - 第 50 頁 - Google 圖書結果

零件的性能參數與大量產品的資料分布進行比較和評估。 ... 公式1 在最基本的I-PAT使用中,可以將一個或多個關鍵篩選層的缺陷數目加總,以獲得晶圓上每個晶片的累積缺陷 ...

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