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M-Ray:用於多核心系統晶片中記憶體之可靠性與良率改善技術

要測試、診斷、修復、並提高整體晶片良率將. 是設計多核心系統的一大挑戰。 ... 須對此測試流程進行測試排程（test scheduling）之工作，計算出同一時間內能夠.

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