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晶片 良率計算
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https://patents.google.com/patent/CN103367188B/zh
CN103367188B - 晶圆良率分析方法及系统 - Google Patents
[0050]根据存储区域和逻辑器件区域的致命缺陷率得到芯片整体的致命缺陷率,并由芯片整体的致命缺陷率计算出晶圆良率。 [0051]为了使整个过程得到优化,对晶圆良率的预测 ...
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